为提高北京及周边省市电子显微学的学术及技术水平，促进电子显微学工作者在材料科学、生命科学等领域的应用、发展和交流，一年一度的“2010年度北京市电子显微学年会”于2011年1月17日在北京天文馆隆重召开。会议主要内容是关于扫描电镜、透射电镜、能谱仪等仪器的技术进展和应用，电镜样品的制备等；涉及医学、农药、刑侦、材料、化工等多个领域。200多位来自科研院所、检测机构、生产企业等单位的专家出席了此次会议。
报告题目：电镜与FIB附件新产品介绍刘凌玉女士介绍到， Gatan公司最新推出的693llion
样品截面抛光装置是基于PIPS(精密离子抛光系统)平台改良设计而成，适用于大面积截面的样品。可选冷台配件；可透过CCD对样品加工过程进行实时观察；同一位置，693llion+可以在进行细微加工(如改变能量、离子枪角度、加工时间)；相对于FIB(聚焦离子束)设备而言，693llion+可以得到比一般分析面大100倍的区域，能够很好的辅助FIB，且价格较便宜，适用于半导体、聚合物、金属、薄膜材料、太阳能电池等材料领域。另外，在扫描电镜上安装冷冻传输装置可最大程度保持样品的表面形貌与含水性，且无需化学固定、脱水，是对含水样品进行高分辨率扫描电镜分析的唯一解决方案。Gatan公司ALTO系列Cryo扫描低温冷冻装置整个制样过程少于10min，方便快捷；其中，ALTO 1000系列用于钨丝扫描电镜，ALTO 2500系列用于场发射扫描电镜。
报告题目：EDAX微观分析技术新进展雷运涛博士提到，经过1年的改造升级的TEAM能谱仪拥有独特的Smart Mapping智能面分布，是第一个支持触摸屏的能谱系统；在定量分析中新增2个功能，更适于粗糙表面的分析；具有同步参数优化功能，得到最佳分析设置，提高分析速度；适用于大角度倾斜(eZAF)、颗粒及粗糙表面(PeBaZAF)的定量算法；尤其值得一提的是TEAM EDS巧妙地解决了部分元素严重的峰重叠问题。
另外，EDAX的OIM系统有两种EBSD探头供用户选择：DigiView IV(更适合相鉴定)和Hikari (适于高速OIM分析)。同时，EDAX公司拥有能够同步采集EBSD和能谱数据的Chi-Scan与提高花样解卷、近晶界分析能力的Triplex Idex(三元指标化)两大专利技术。在这个基础上，全新的TSL OIM6又大大增强了非立方的CSLs、3D ODF等功能。
报告题目：最新球差校正透射电镜技术发展韩冬先生说到，日本电子推出的JEM-ARM200F透射电镜光学系统配备了一体化的球差校正器，具有高稳定性、易操作性，大大提高了分辨率和分析能力，使电镜分析达到亚埃原子分辨水平，适用于各种高端研究。特别是JEM-ARM200F中，日本电子独有的ABF技术使得人们对轻元素单原子的观察成为可能。另外，日本电子公司的冷场电子枪成功应用到场发射球差校正透射电镜中，这种新式的真空系统可以保证发射的长期稳定；相比于热场枪，其束斑尺寸更小，亮度更高，能量分辨率更高；元素确认能力也更强，可作二维原子柱的元素分析。
目前，全球多个国家的科学家利用球差校正透射电镜以及ABF技术，已经发表了一系列一流的科研成果，例如2010年5月，日本某研究小组直接成功地观察到了锂原子，属全球首次。
报告题目：日立新型数字化透射电镜HT7700日立HT7700新型数字化透射电镜具有独创的物镜极靴，是一种快速的纳米材料分析新工具，在生物、医学、软材料等领域有着广泛的应用。程路先生说到，HT7700的技术特点可概括为高反差/高分辨模式切换、低放大倍数、大视野、友好的用户界面、扩展升级方便。
其中，HT7700拥有双隙物镜系统(高反差/高分辨)，两者之间可一键切换。对此，程路先生专门介绍了两个应用实例：利用高反差模式观察未染色样品、利用高分辨模式观察金和石墨。HT7700还拥有实时屏幕摄像机(免荧光屏)，可以使视野更宽广，图像更明亮，衬度更佳，无需在黑暗房间工作;集成的高灵敏/高分辨CCD拥有自动成像、图像导航、定位、测量、回溯等功能，其中，自动连续拍照和全景拼图功能是这款产品的一大亮点。另外，HT7700标配有清洁的涡轮分子泵，节约电力，减少了油气污染。同时强大的EMIP-SP图像处理软件使得HT7700更加地得心应手。
报告题目：岛津表面分析技术最新进展王燕华女士指出，在研发设计原子力显微镜之初，日本岛津专门设计了一款可以跟踪环境的产品——环境气氛腔。随后，王燕华女士针对于环境气氛腔的环境模拟特点，如腔体内温度湿度的控制、样品的加热制冷、特殊气氛的引入、所需光线的引入等方面作了介绍。同时，王燕华女士还介绍了高取出角的优势：具有更短的X射线路径，减少X射线的吸收，降低二次荧光的能量；具有更高的空间分辨率，便于分析凹凸不平的样品。
日本岛津公司2009年推出了EPMA 1720型电子探针，主要用于成分定量分析。该款产品拥有电子束漂移修正专利技术，从SEM条件改变分析条件无需调整电子束轴；仪器的监测功能强大，电子光学系统/X射线分光系统/真空排气系统一目了然，一同监测仪器的变动情况；另外，该仪器的一大亮点是其简单的分析模式，属世界首创。
报告题目：世界第一台极高分辨率双束显微镜韩伟先生在报告中讲到，FEI公司的主要产品有扫描电子显微镜SEM，FIB/SEM双束系统，透射电子显微镜TEM等产品。其中，FIB/SEM双束系统并不是聚焦离子束和电子束的简单机械组合，而是将DualBeam技术成功应用到了Helios NanoLab 650产品中，使其成为目前市场上最强大的场发射扫描(FESEM)+聚焦离子束(FIB)“双束”显微镜系统。
该产品拥有更高的FIB束流密度和低电压范围，这使得图像分辨率变得更好；配有优异的压电陶瓷样品台，使仪器精度更高；并有针对电子束和离子束的16位图形发生器、软件集成的图形加工能力以及专业的气体注入系统的选择功能；其低电压能够保证样品损伤层最小，并拥有出众的三维表征和分析能力，主要适用于于表面及表面下超高分辨成像、表面及表面下的分析、定点样品制备、纳米原型制备以及3D表征及分析等领域。
报告题目：CAMSCAN扫描电镜最新技术介绍杨新先生说到，CAMSCAN公司的CS3000系列扫描电镜，包括钨灯丝、LaB6和场发射;Apollo 300肖特基热场发射以及X500独有的水平倾斜镜筒晶体学探针。
CS系列产品型号齐全，并有低位样品台、冷台、拉伸台、能谱等多种可选配件。其中，CS3100适用于材料和化学领域的研究；CS3200适用于生物、聚合物以及制药领域；CS3400多用于失效分析和刑事侦查；CS3500适用于生物医学领域。
Apollo 300将最新的30kv肖特基场发射技术与先进的样品台设计完美结合，并依托独有的Delphi透镜贯穿式探测器，可用于磁性样品的分析；放大倍率的全范围无需切换工作模式；并拥有超大矩形样品室、可变能量技术、场发射针尖(TIP)模块、Fastrac反馈定位器以及Helios软件等。
报告题目：TESCAN扫描电镜的新技术与新发展黄汉江先生表示，TESCAN公司成立于1991年，有超过60年电子显微镜的制造历史；2009年9月，在中国设立了中国分公司——泰思肯(贸易)上海有限公司。随后，黄汉江先生谈到，FIB(聚焦离子束)成像原理是利用离子束撞击物质表面产生带电粒子，侦测器侦测二次粒子输出图像。目前只有CDEM、MCP、Scintillator三种侦测器能实现这一功能。
TESCAN公司009年推出一款FIB双束聚焦离子显微镜，其原理和扫描电镜类似，不同之处在于选择的粒子不同。双束聚焦离子显微镜选择将Ga元素离子化成Ga+，利用电场加速和静电透镜聚焦，将高能量的Ga+打到指定点。除Ga外还有In、Au等，大多数商用聚焦离子束系统选用Ga主要是因为镓元素具有低熔点、低蒸汽压及良好的抗氧化能力。另外，双束聚焦离子显微镜主要应用于研究电路修正、判别晶粒大小、光照修补等。黄经理还简单介绍了TESCAN这一款FIB的离子束和气体注入系统，具有使用方便、产品质量稳定、分析高效等特点。
报告题目：拥有GEMINI专利技术(非交叉束)的蔡司热场发射扫描电镜(FE-SEM)和聚焦离子束系统(FIB)唐圣明教授说到，场发射扫描电镜是纳米时代的产物。进入纳米时代，为了寻找高亮度电子枪，提高仪器分辨率；为了提高接收效率，专门接收SE1和高角度背散射电子；为了降低电子束对样品的损伤，保证低加速电压下的高倍率成像，场发射扫描电镜应运而生。
拥有GEMINI专利技术(非交叉束)的蔡司热场发射扫描电镜是用于纳米结构分析的电子束成像仪器中的佼佼者。其采用优良的低加速电压，可以避免对样品表面的损伤；SUPRA TM40VP等VP(可变真空)模式，使不导电样品可以无需预先制备就可以成像；采用了用于形貌成像的GEMINI
In-len二次电子探测器技术，允许顺磁、逆磁或强磁样品在非常短的工作距离时高分辨成像。。AURIGATM聚焦离子束系统代表者——CrossBeam
产品系列，将高分辨率场发射专利技术与高性能的聚焦离子束技术结合在一起，是最佳的分析与检验工具。唐圣明教授介绍了聚焦离子束系统产品的机理，并通过对比电镜图片证明了蔡司产品探测器的优势所在。
报告题目：大面积能谱引领电制冷能谱的发展趋势冯骏先生介绍到，牛津公司的大面积能谱仪系统X-max已经成为用户当前新购置能谱的首选仪器。
X-max大面积电制冷能谱具有十大优势：(1)能谱分辨率大大提升，最高实测分辨率达到121eV；(2)同样的电镜条。
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